研究與試制抗干擾用厘型金屬化聚丙烯薄膜電容器的15師向虎，楊曉舟8上海中獅電子有限公司，上海201206阻大小芯子的錯邊噴金粒子的大小噴金前芯子端面上的灰塵是導(dǎo)致電容器芯子在經(jīng)過賦能，成品耐電壓試驗，脈沖電壓試驗后15變大的主要原因在這類電容器制造過程中應(yīng)嚴(yán)格控制這些因素8抗干擾電容器主要應(yīng)用于電子和電器設(shè)備中降低電源負(fù)載和設(shè)備之間的相互干擾，它必須能承受諸如閃電弓1起的高電壓的沖擊。

　　制作抗干擾用MKP型金屬化聚丙烯薄膜電容器有相當(dāng)?shù)墓に囯y度。如何在生產(chǎn)中控制該電容器的電5，直是要解決的主要工藝問。筆者簡要探討這類電容器鱸的主要影響因素及工藝問。

　　抗干擾電容器的通用標(biāo)準(zhǔn)是正038414.這類電容器有跨接型又類或尺0組件摟地型抗干擾電容器類或厭0組件。

　　又類電容器或厭，組件適用于當(dāng)其失效時不會導(dǎo)致電沖擊危險的場合。這類電容器按疊加到電源電壓上的脈沖電壓值大小分為類又沿和又3.類電容器或組件適用于電容器失效時會導(dǎo)致電沖擊危險的場合。

　　這里以抗干擾用類型金屬化聚丙烯薄膜電容器以下簡稱X2類MKP型抗干擾電容器為例進(jìn)行討論I 1類型抗干擾電容器的結(jié)構(gòu)與技術(shù)指標(biāo)1.1結(jié)構(gòu)52類型抗干擾電容器般是采用鋁金屬化聚丙烯膜卷制芯子，先噴鋅后噴鋅錫，用塑料外殼，通過環(huán)氧樹脂灌注而成。或者是由鋅鋁復(fù)合金屬化聚丙烯薄膜卷制芯子，先噴鋅鋁后噴鋅錫。其結(jié)構(gòu)12，其薄膜采用邊緣加厚結(jié)構(gòu)。

　　1.2主要技術(shù)指標(biāo)加強邊蠓極間絕緣電阻0.33極間試驗電壓741也2300 2極間耐電壓試驗額定電容量103該電容器在耐久性試驗前應(yīng)在極間施加24次相同極性的脈沖電壓進(jìn)行試驗，試驗應(yīng)無永久擊穿或飛弧，而且有次或更多次的波形明未發(fā)生自愈性擊穿。對于電容量不超過10尸振蕩的峰峰脈沖電壓叫應(yīng)不大于峰值脈沖電壓的3.為確保該電容器的質(zhì)量，在制造過程中焊接前的芯子要分別經(jīng)過030電壓和2600的階梯直流電壓電子有限公司工作，現(xiàn)任新產(chǎn)品開發(fā)工程師。說。楊曉舟1969，男，河南南陽人，碩士。現(xiàn)為公電子元件與材料2001年6月7壓的耐電壓試驗，出廠前要抽測適量的成品進(jìn)行3波形的3次試驗，而試驗后屯5100扭2的增量不能超過規(guī)定值。

　　在制造過程中如果工藝不良電容器的培就會在賦能后或成品耐電壓試驗后，或者在抽測試驗后變大而失效。因此，在生產(chǎn)過程中就要長嚴(yán)格控制1藝，從而達(dá)訓(xùn)控制秘的目的1 3電容器的15從基礎(chǔ)理論可知，當(dāng)電容器的固有電感小到可以忽略時，電容器的損耗由部分組成，即主要介質(zhì)損耗每4輔助介質(zhì)損耗15.漏尉員牦擔(dān)4以及金屬似6與它們之間的接觸損牦喊，類抗干擾電容器由于不進(jìn)行涂覆，只用環(huán)氧樹脂灌注，因此可不考慮輔助介質(zhì)損耗屯各在常溫1或10，扭2頻率條件下用，130儀測試時，分析損耗問般可以不考。慮漏導(dǎo)損耗151.因此主要分析18各和18在1 3.1介質(zhì)損耗扭各52類型抗干擾電容器的介質(zhì)是聚丙烯薄膜，般情況下聚丙烯膜的151在1扭2201；條件下測試約為1.5，210但隨著溫度的升高而減小；隨著頻率的升高而增大，其變化甚微。在電容器的制造過程中，般無法改進(jìn)電容器介質(zhì)本身的龜各，因此，在分析電容器的185時，如果測試頻率定則可以不考慮龜各的變化。

　　3.2金屬損耗及接觸損耗屯薄膜方阻大小，芯子錯邊薄膜金屬層縱向劃傷噴金粒子太大芯子端面噴金層不完全弓線虛焊噴金前芯子端面的灰塵等都是引起龜5在賦能后，或耐電壓試驗后，或抽樣脈沖電壓試驗后增大的重要原因。這部分我們著重討論。

　　3.2.1金屬損耗金屬損耗包括電容器的電極損耗噴金層的損耗和引線器芯子的結(jié)構(gòu)。方阻越大，損耗越大；長而細(xì)的芯子，損耗也就比較大。又2類抗干擾電容器采用邊緣加厚金屬化聚丙烯薄膜，鋁蒸發(fā)膜般邊緣部分的方阻小于2邙口，其余部分為36口鋅鋁蒸發(fā)膜般邊緣部分的方阻小于30口，其余部分為712邙口。選擇適當(dāng)方阻的金屬化薄膜非常重要。這是因為方阻大，金屬膜就薄，電容器的自愈性能雖好，但電容器的極板損耗將會變大，使1目41較大。而且在這種情況下金屬膜的載流能力也小，使用時就可能發(fā)熱，嚴(yán)重時將導(dǎo)致電容器發(fā)熱失效。尤其是電容器的端面部分，電流密度比較大，方阻太大也就是說金屬膜太薄時，噴金層與薄膜的金屬膜之間的接觸點將會因不能承受如此大的電流逐漸開路，導(dǎo)致電不斷地增大而使135增大而失效。相反，如方阻小，51也就相應(yīng)小。但方阻太小，電容器的自愈性能就較差。這是因為方阻小，金屬膜就厚，在自愈過程中需要的能量就大，使自愈點溫度太高，在該點就有可能使臨近的薄膜引起新的自愈，嚴(yán)重時會使該自愈點連續(xù)引起新的臨近的膜自愈，比較后導(dǎo)致薄膜大面積擊穿熔化而從芯中出現(xiàn)碳化后的黑色熔融體，使電容器失效，嚴(yán)重時還會弓起電袢器外殼開裂所以。為了提高載流能力，+影啊自愈性能，幻類型抗干擾電容器采用了加厚邊緣的金屬化結(jié)構(gòu)。

　　薄膜蒸發(fā)層橫向劃傷也會導(dǎo)致1841變大。當(dāng)薄膜蒸發(fā)層劃傷后，從電容器芯子端面流入的電流改變了流動的路徑，使電容器金屬部分的等效串聯(lián)電阻增大。

　　噴金層般是鋅+鋅錫組合層或鋅鋁+鋅錫層，這部分損耗般很小，可以忽略不計。大電容量長引線的電容器，在高頻條件下測試時，由于引線電感的影響，將導(dǎo)致電容器的損耗15明顯增加。采用浸錫紫銅線比浸錫銅包鋼線的同類電容器的城要小很多。

　　3.2.2接觸損耗接觸損耗是噴金層與蒸發(fā)層之間引線與噴金層之間的接觸損耗。對于又2類抗干擾電容器來說，這兩個接觸面的接觸損耗的大小將決定電容器在賦能后或耐電壓試驗后，或抽樣脈沖電壓試驗后15的大小和電容器的使用壽命。而且芯子無錯邊噴金粒子太大芯子端面噴金層不完全引線虛焊噴金前芯十端⑴七灰個等都會引起接觸損耗增人而導(dǎo)致培變大，比較終導(dǎo)致秘變大。檢查電容器端面接觸是否可靠，通常的辦法；對電容器進(jìn)數(shù)百次的短路充放電試驗。如試驗前后15變化甚微兌明端面接觸良好；否則，應(yīng)采取措施改善端面的接觸性。

　　1芯子的錯邊在卷繞金屬化電容器芯子時，兩層薄膜之間應(yīng)留有定的錯邊，以便噴金時金屬粒子與薄膜的金屬蒸發(fā)層有良好的接觸。般的電容器，其錯邊應(yīng)確保大于定所形成的面和噴金層而連接的。般情況下，蒸發(fā)層很薄，就是加厚邊緣也在0.05以，以下，所以噴金層與薄膜上的金屬蒸發(fā)層端面只有微弱的連接。如果錯邊太小或無錯邊，只靠噴金粒子與很小的錯邊或蒸發(fā)層的端面接觸來連接，電容器耐電壓試驗時，在大電流的作用下，噴金層與蒸發(fā)層的某些接觸顆粒點就會燒斷，導(dǎo)致接觸電阻變大，使141變大，從而使15增大。

　　在生產(chǎn)過程中，經(jīng)常遇到電容器的185100在耐電壓試驗后變大，特別是在脈沖電壓試驗后更大。解剖時發(fā)現(xiàn)芯子錯邊很小，或者部分卷繞圈無錯邊，這是由于噴金層與蒸發(fā)層的接觸1汰3玄部位碰承受如此尺的電流，使某1很觸點祚屯流2弓線虛焊弓端般是將弓線焊接在芯子的噸金層而引出的，而引線與噴金層之間的焊接質(zhì)量也會影響電容器的電如果引線虛焊，在后道工序裝外殼或灌注過程中，或成品耐電壓試驗時會導(dǎo)致引線與金屬層脫離，造成電容器的等比較新開發(fā)生產(chǎn)。設(shè)計侃妾度9001該設(shè)備較之普通的網(wǎng)帶式傳送爐具，省電保溫功率1工，產(chǎn)里大以0片子計，每，4小時產(chǎn)比較約18萬片，造價低，占地小等優(yōu)點本公司可晷戶要塍窯網(wǎng)銀爐印，箱式爐預(yù)錫爐及各類干燥設(shè)備。

　　成都華電子設(shè)抑造有限公司連續(xù)式立式燒結(jié)爐地址成武核大道占福村皤5，610041電話，28電子元件與材料2001年6月效串聯(lián)電阻增大，使1841變大，比較終導(dǎo)致15變大。

　　3噴金層不完全指芯子噴金端面部分沒有噴金層。

　　在大電流的作用下就會出現(xiàn)間隙放電，從而使噴金層與薄膜上大，比較后使噴金層完全脫離導(dǎo)致電容器開路失效。噴金層不完全般是由于芯子掩模紙?zhí)珜挘趪娊鹎把谀＜埖惯厡?dǎo)致芯子部分端面沒有噴上金屬，或者是噴金后去毛刺時損傷了噴金層，特別是去毛刺損傷噴金層。嚴(yán)重時會造成部分區(qū)域的噴金層與薄膜上的蒸發(fā)層之間的接觸不良，導(dǎo)致接觸電阻增大，從而使15增大。因此，在生產(chǎn)過程中就應(yīng)盡量避免這種現(xiàn)象出現(xiàn)，且要適當(dāng)控制噴金層的厚度和去毛刺的時間。

　　⑷灰塵噴金前，如果灰塵飛落在芯子端面上，會導(dǎo)致噴層與薄膜蒸發(fā)層之叫的接觸不良火有時是來自周圍環(huán)境，有時是來自噴金過程中氧化后的噴金粒子所形成的灰塵。

　　尤其是后者，控制不良，這些灰1就極易飛落到芯子的另端面，或混入噴金層中。由于氧化后的噴金粒子辦，或12，3等都是不導(dǎo)電的絕緣體，旦這些粒子飛落到芯子端面的某點，這點的噴金層與蒸發(fā)層就脫離接觸，如果大量的灰塵飛落到芯子端面，就會導(dǎo)致噴金層與蒸發(fā)層之間的嚴(yán)重接觸不良，使接觸電阻增大，則1相應(yīng)增大。特別是這樣的電容器經(jīng)過賦能，或成品耐電壓試驗，或脈沖電壓試驗后，由于芯子端面不能承受如此大的電流的作用，使噴金層與蒸發(fā)層之間的坫叫接觸點被燒斷人而進(jìn)步導(dǎo)致接觸電阻，大史吵相應(yīng)變大，嚴(yán)重時將會導(dǎo)致噴金層完全脫離使電容器開路失效。

　　因此，在噴金過程中就方面應(yīng)嚴(yán)格控制噴槍噴口至芯子之間應(yīng)避免氧化后的粒子灰塵飛落到芯子端面。

　　4結(jié)論，響，0類抗干擾電荇器的電5主要閩素由薄膜介明本訃發(fā)膜的方阻以及蒸發(fā)膜的橫向劃傷是影響金屬損耗的主要原因。芯子的錯邊噴金粒子的大小噴金前芯子端面上的灰塵和引線冰植響接觸損耗的要素胃尤兒是薄脫的方虬芯+導(dǎo)致電容器經(jīng)過賦能，或成品耐電壓試驗，或脈沖電壓試驗后185變大的主要原因。因此，在又2類型抗干擾電容器的制造過程中，嚴(yán)格控制這些因素是非常必要的。

　　編輯伍大志用的單傳使地列的柯中各系特產(chǎn)囤的獨生仝產(chǎn)，瓷銷生因陶行於子品公爐唯電產(chǎn)本結(jié)削干其逛燒極力別式市致產(chǎn)特立操都司生行成公與評溫運本制好備研受設(shè)來的深區(qū)，年備，溫計多設(shè)北雙設(shè)結(jié)企統(tǒng)鐃多區(qū)系爐電用通拽怊名沐溫次設(shè)為計該作設(shè)地。可。效程也產(chǎn)竹過，生能全備4的設(shè)M要，峨主種構(gòu)的，扣，哪小助；！熱中輔成種成品燒0控多覓可是批立啦熱中其預(yù)，1成種重要啟事為適應(yīng)發(fā)展的需要，本刊編輯部將于201年6月中旬搬遷到成都市環(huán)路東段8號宏明商廈702室。，通信地址改為成都市建設(shè)路郵電局5人274信箱。，歡迎廣大朋友來訪或電話聯(lián)系。，電子元件與材料2001年6月43