變頻調(diào)速器作為一種高效節(jié)能的電機(jī)調(diào)速裝置在黃驊港煤炭裝卸設(shè)備中得到了廣泛應(yīng)用。其中采用較多的日本富士變頻器，使用多年后已漸入故障高發(fā)期。下面就富士變頻器的一些常見(jiàn)故障及判斷解決方法介紹如下。
一、oC1、OC2、OC3故障
故障顯示OC1，0C2，0C3，是富士變頻器比較常見(jiàn)的故障之一，它指變頻器加速、減速和恒速中過(guò)電流，此故障產(chǎn)生的原因有以下幾種。
1．加減速時(shí)間過(guò)短，這是比較常見(jiàn)的過(guò)電流現(xiàn)象。可依據(jù)不同的負(fù)載情況相應(yīng)調(diào)整加減速時(shí)間，就能消除此故障。
2．大功率晶體管損壞也可能引起OC報(bào)警。從早期的用于G2(P2)，G5(P5)，G7(P7)系列的GTR模塊， 到G9(P9)系列的IGBT模塊， 以至IPM模塊，無(wú)論從封裝技術(shù)還是保護(hù)性能，都有了很大提高，高耐壓、大電流、高頻、低耗、靜音、多保護(hù)功能已成為大功率晶體管模塊的發(fā)展趨勢(shì)。大功率晶體管模塊的損壞主要有以下幾種原因：(1)輸出負(fù)載短路；(2)負(fù)載過(guò)大，大電流持續(xù)出現(xiàn)；
3.負(fù)載波動(dòng)很大，導(dǎo)致浪涌電流過(guò)大。
3．大功率晶體管的驅(qū)動(dòng)電路損壞導(dǎo)致過(guò)流報(bào)警。富士G7S、G9S分別使用了PC922和PC923兩種光耦作為驅(qū)動(dòng)電路的核心部分。由于內(nèi)置放大電路設(shè)計(jì)簡(jiǎn)單，被包括富士變頻器在內(nèi)的多家變頻器廠家廣泛使用。驅(qū)動(dòng)電路損壞的比較常見(jiàn)現(xiàn)象就是缺相，或三相輸出電壓不平衡。
4．檢測(cè)電路的損壞導(dǎo)致變頻器顯示OC報(bào)警。
檢測(cè)電流的霍爾傳感器由于受溫濕度等環(huán)境因素的@G=。0 可匡 0 匡匡嘯0影響，工作點(diǎn)很容易飄移，導(dǎo)致OC報(bào)警。
二、開(kāi)關(guān)電源損壞
開(kāi)關(guān)電源損壞的特征是變頻器上電無(wú)顯示。富士G5S采用兩級(jí)開(kāi)關(guān)電源，先把中間直流回路的直流電壓由500V左右轉(zhuǎn)換成300V左右，然后再通過(guò)一級(jí)開(kāi)關(guān)電源輸出5V、24V等多路電源。開(kāi)關(guān)電源損壞常見(jiàn)的有開(kāi)關(guān)管擊穿、脈沖變壓器燒壞以及次級(jí)輸出整流二極管損壞。濾波電容使用時(shí)間過(guò)長(zhǎng)，導(dǎo)致電容特性變化，帶載能力下降，也很容易造成開(kāi)關(guān)電源損壞。富士G9S使用一片開(kāi)關(guān)電源專用的波形發(fā)生芯片， 由于主回路高電壓的竄入，經(jīng)常會(huì)導(dǎo)致此芯片損壞且較難修復(fù)。
三、整流橋損壞
富士G7S使用一塊帶有可控硅的整流模塊，它與普通整流橋的區(qū)別在于用可控硅替代了主回路接觸器，提高了機(jī)器的可靠性。G9S小功率機(jī)器整流橋則是集成可控硅與開(kāi)關(guān)管于一體。整流橋的損壞常與機(jī)器外部電源有密切聯(lián)系，當(dāng)整流橋發(fā)生故障后，不可再盲目上電源，應(yīng)先檢查外圍設(shè)備。
四、LV、oV故障
欠壓和過(guò)壓也是富士變頻器的常見(jiàn)故障，這有主電源因素引起的故障報(bào)警，也有機(jī)器檢測(cè)電路損壞而引起的報(bào)警。富士G5S使用了一片定做的電壓檢測(cè)厚膜電路，檢測(cè)主回路直流電壓。G7S、G9S則是直接從直流主回路采樣檢測(cè)，其檢測(cè)效果是一樣的。此外富士變頻器也會(huì)經(jīng)常出現(xiàn)一些與主板有密切聯(lián)系的報(bào)警，包括(Err，Erl，Er7，Er3)等。